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簡要描述:在實際測(ce)量(liang)(liang)時(shi)所測(ce)波(bo)形往(wang)往(wang)比理(li)論波(bo)形差,尤其在有(you)繞組(zu)測(ce)量(liang)(liang)時(shi),這是因為(wei)在測(ce)量(liang)(liang)時(shi)變壓(ya)器繞組(zu)的(de)電感、電容參數造成的(de)振(zhen)蕩信號,以(yi)及分接(jie)開(kai)關(guan)的(de)機械振(zhen)動(dong),使(shi)所測(ce)波(bo)形呈現出一些波(bo)動(dong),這種情(qing)況在實際測(ce)試時(shi)是無法避免的(de)。
詳細介紹
1、在實際測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)時(shi)所測(ce)(ce)(ce)(ce)波(bo)(bo)形(xing)往往比(bi)理(li)論(lun)波(bo)(bo)形(xing)差,尤其在有(you)繞組(zu)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)時(shi),這是(shi)(shi)因(yin)為(wei)在測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)時(shi)變壓(ya)(ya)器繞組(zu)的電(dian)感、電(dian)容參(can)數造成的振(zhen)蕩信(xin)號(hao),以(yi)及分接(jie)開(kai)關(guan)的機械振(zhen)動(dong),使所測(ce)(ce)(ce)(ce)波(bo)(bo)形(xing)呈現(xian)出一些波(bo)(bo)動(dong),這種(zhong)情況在實際測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)是(shi)(shi)無法避免的。有(you)些新開(kai)關(guan)由(you)于(yu)開(kai)關(guan)接(jie)觸點上保護油(you)膜在低(di)電(dian)壓(ya)(ya)下呈顯現(xian)絕緣性;以(yi)及使用年(nian)限較長,開(kai)關(guan)接(jie)觸點有(you)氧化現(xian)象的開(kai)關(guan),在測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)波(bo)(bo)形(xing)可(ke)能,這也屬正(zheng)常現(xian)象。可(ke)以(yi)在該檔上多切(qie)換幾次(ci)開(kai)關(guan),使氧化層變薄,增加接(jie)觸面積(ji),再用儀器進行測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi),可(ke)能會避免這種(zhong)現(xian)象。
2、還有一(yi)種現象就是超量(liang)程(cheng)測試(shi),如測試(shi)開關的過(guo)(guo)渡電阻(zu)大于9Ω,而選量(liang)程(cheng)為(wei)9Ω時進行(xing)測量(liang),結(jie)果會出現如圖(tu)二十一(yi)所示的波(bo)形。 這時光標(biao)1所指(zhi)示處的過(guo)(guo)渡電阻(zu)有可(ke)能正常(chang),光標(biao)2所指(zhi)示處的過(guo)(guo)渡電阻(zu)顯示為(wei)50.0Ω,這是由(you)于超量(liang)程(cheng)所致,只需把量(liang)程(cheng)改為(wei)30Ω再進行(xing)測試(shi)即可(ke)。也可(ke)能過(guo)(guo)渡過(guo)(guo)程(cheng)中(zhong)間過(guo)(guo)程(cheng)為(wei)平直(zhi)線均為(wei)50.0Ω,也是超量(liang)程(cheng)所至,則也只需改變(bian)量(liang)程(cheng)為(wei)30Ω即可(ke)。
3、當進行無(wu)繞(rao)組測量,沒有變壓器(qi)繞(rao)組的分布參數影響,波(bo)(bo)形(xing)會比較接近理論波(bo)(bo)形(xing),當用戶所測波(bo)(bo)形(xing)曲線(xian)不平直時,多數情(qing)況為機械傳動原(yuan)因,并不是開關或(huo)儀器(qi)測試有問題。如出現斷(duan)點,斷(duan)點處波(bo)(bo)形(xing)回到底部,則要謹慎對待。
4、有時在開關切換(huan)時有瞬(shun)間斷(duan)點,這時波形(xing)即被壓(ya)成一(yi)條(tiao)近似平直(zhi)的(de)直(zhi)線,這種情況(kuang)是(shi)本儀器處理所(suo)致。當(dang)移(yi)動光標2讀三相波形(xing)曲線各點時,同樣能看到切換(huan)各時段電阻的(de)變化,但這種情況(kuang)重新測試。 當(dang)波形(xing)出現異常的(de)下跳點并(bing)且持續時間在2ms以上(shang)時,應檢查該(gai)處的(de)電阻值,如果電阻值超過(guo)50Ω,很可(ke)能存在接觸不良或有松動處,這時,應反復進行多(duo)次測試,以便判(pan)斷(duan)。
符合DL/T846.8-2004標準(zhun)
1、三路獨立測試(shi)電源,輸(shu)出電流I≥1A;
2、儀器采(cai)樣率10KHZ;
3、單次波形zui大存儲時間268.8毫秒;
4、過渡(du)電(dian)阻測量范圍:0.1-200Ω;
5、電阻測量(liang)精度:0.1~1 Δ R≤0.1Ω; 1Ω~200Ω((不含(han)1Ω)ΔR≤±1%。
6、時間測量精(jing)度:ΔT≤0.1mS;
7、顯示器(qi):320*240;
8、處理(li)部分:高速(su)32位微處理(li)器,儀器能(neng)保存100條數據;`
9、高(gao)(gao)速(su)12位6通道同(tong)步A/D轉換器,zui高(gao)(gao)采樣(yang)率可達250KHZ;
10、電(dian)源:220V±10%,功率:200W。
11、主(zhu)機尺寸:380mm×262mm×120mm。
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